干湿二合一激光粒度仪LS-C(III)型PCB抄板案例
发布：http://www.xlbcb.com/ | 作者： | 发表时间：2009-12-27
致远公司在原样机的基础上进行二次开发而研制，在保持原样机所有功能的前提下满足了客户的个性化需求，其产品投放市场后已取得了良好的经济效益，深受用户赞誉。
创新点1. 采用了欧美克专有的两项专利，测量精度高。
2. 全量程测量，勿需更换镜头，使用更方便。
3. 探测器自动对中、针孔防震设计。
4. 干法进样器与主机一体化设计，干湿法切换极为方便，湿法循环进样系统内置超声。
5. 具有遮光比自动限制功能。测量前预设遮光比可调范围，仪器可自动剔除不在预设遮光比范围的测试结果，提高测量精度。
6. 除了主探测器和辅助探测器外，增加了大角探测器，使测量有效下限达到0.1μm。
仪器介绍
LS-C(III)型干湿二合一激光粒度分析仪
功能用途
既可测量不能在液体中分散须在气体中分散的粉体材料，也可测量须在液体中分散的样品。
工作原理
利用颗粒对光的散射现象，根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。
技术参数技术指标
1. 测试范围：0.1-1000μm
2. 进样方式：干法进样兼湿法进样
3. 重复性误差：<3%
4. 测试时间：1-2分钟
5. 独立探测单元数：54
6. 光源：He-Ne激光器，功率2mW，波长0.6328μm
7. 工作环境：温度：5-35℃，湿度：＜85%
主要特点产品特点
1. 采用了欧美克专有的两项专利，测量精度高。
2. 全量程测量，勿需更换镜头，使用更方便。
3. 探测器自动对中、针孔防震设计。
4. 干法进样器与主机一体化设计，干湿法切换极为方便，湿法循环进样系统内置超声。
5. 具有遮光比自动限制功能。测量前预设遮光比可调范围，仪器可自动剔除不在预设遮光比范围的测试结果，提高测量精度。
6. 除了主探测器和辅助探测器外，增加了大角探测器，使测量有效下限达到0.1μm。
以上信息由深圳致远公司（http://www.pcbvs.com/index.html）提供。目前，致远公司专业研发团队已经成功实现上述产品的仿制克隆与二次开发项目，长期提供相关项目合作与全套技术资料的转让，诚挚欢迎您来电来访咨询详情。
