BMH-J3薄膜测厚仪PCB抄板案例
发布：http://www.xlbcb.com/ | 作者： | 发表时间：2009-12-25
致远公司在原样机的基础上进行二次开发而研制，在保持原样机所有功能的前提下满足了客户的个性化需求，其产品投放市场后已取得了良好的经济效益，深受用户赞誉。
BMH-J3薄膜测厚仪
仪器别名: 数显薄膜测厚仪,薄膜测厚仪,数显测厚仪,测厚仪,厚度仪,薄膜厚度测定仪,厚度测定仪,数字厚度仪,厚度测试仪,厚度试验仪
产品用途：主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特数显薄膜点。
技术指标：
1.测量范围：（0-25）mm
2.分辨率：0.001mm
3.电源：氧化银电池SR44
4.工作温度：0℃～+40℃
5.储运温度：-20～+70℃
6.相对湿度：≤80%
以上信息由深圳致远公司（http://www.pcbvs.com/index.html）提供。目前，致远公司专业研发团队已经成功实现上述产品的仿制克隆与二次开发项目，长期提供相关项目合作与全套技术资料的转让，诚挚欢迎您来电来访咨询详情。
